精密阻抗分析仪TH2838H ,基本精度：0.05%，频率：20Hz~2MHz，测试电平5mV~20V，DC偏置0-40V，四端对自动平衡电桥；201点列表扫描；多参数图形分析（曲线）.

TH2838，TH2838H，TH2838A 是采用自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其0.05%的基本精度、快达5.6ms 的测试速度、20Hz-2MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于测量低D电容器和高Q 电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。TH2838，TH2838H，TH2838A 支持20V交流测试信号和40V直流偏置的高功率测试条件、增强的多参数列表扫描/多参数图形分析能力将有利于用户扩展元件全面评价的能力。TH2838，TH2838H，TH2838A 是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供了强有力的工具。TH2838，TH2838H，TH2838A 以其性能可以实现如IEC和MIL标准的各种测试。

精密阻抗分析仪TH2838H

• 应用

• ■ 无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

  ■ 半导体元件：LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

  ■ 其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

  ■ 介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

  ■ 磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

  ■ 半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

  ■ 液晶单元：介电常数、弹性常数等C-V特性

■ LCR自动平衡测试理论是美国HP公司一九八几年提出来的，这是全*好测试方法。自动平衡保证全频段测试的精度：

■ 普通电桥是使用运放采样信号，运放缺点输入端有偏置电流，流过被测件跟流过采样电阻的电流不一致，电流的误差是取消不了的，清零是没用的。

■ 自动平衡不采用运放， 而采用FPGA加高速ADC采样，另外做了一个信号源同时加在被测件上，来抵消普通LCR这种误差,用这种方法能保证更高的测试精度跟测试范围。

■ 目前市面上只有同惠的LCR采用自动平衡测试原理。