- Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
- Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
Keithley 4200A-SCS 参数分析仪,使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
型号
描述
4200A-SCS-PK1
高分辨率 IV 套件210V/100mA,0.1 fA 分辨率
用于两端器件和三端器件、MOSFET、CMOS 检定 4200A-SCS-PK1 套件包括:- 4200A-SCS 参数分析仪
- 2 个 4200-SMU 模块
- 1 个 4200-PA 预放大器
- 1 个带有采样装置的 8101-PIV 测试夹具
4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz
用于高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 检定 4200A-SCS-PK2 套件包括:- 4200A-SCS 参数分析仪
- 2 个 4200-SMU 模块
- 1 个 4200-PA 预放大器
- 1 个 4210-CVU 电容电压模块
- 1 个带有采样装置的 8101-PIV 测试夹具
4200A-SCS-PK3
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz
用于功率器件、高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 检定 4200A-SCS-PK3 套件包括:- 4200A-SCS 参数分析仪
- 2 个 4200-SMU 模块
- 2 个 4210-SM
- 1 个 4200-PA 预放大器
- 1 个 4210-CVU 电容电压模块
- 1 个带有采样装置的 8101-PIV 测试夹具
4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件用于使用硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括:
- 1 个 4225-PMU 超快 I-V 模块
- 2 个 4225-RPM 远程预放大器/开关模块
- 自动化检定套件 (ACS) 软件
- 超快 BTI 测试项目模块
- 布线
模块
描述
4200A-CVIV
I-V/C-V 多开关模块
4201-SMU
用于高电容设置的中功率源测量单元
4211-SMU
用于高电容设置的高功率源测量单元
4201-SMU-R
用于高电容设置的现场可安装中功率源测量单元
4211-SMU-R
用于高电容设置的现场可安装高功率源测量单元
4200-SMU
中功率源测量单位
4210-SMU
大功率源测量单元
4200-SMU-R
可现场更换的 MPSMU
4210-SMU-R
可现场更换的 HPSMU
4200-PA
远程预放大器模块
4210-CVU
电容-电压单位
4220-PGU
高电压脉冲发生器单元
4225-PMU
超快速脉冲测量单位
4225-RPM
远程预放大器/开关模块
4200-BTI-A
超快速 BTI 包
参数查看,快速清晰。
执行 CV 扫描的 4200A-SCS 和 4200A-CVIV 的正视图
大胆发现从未如此简单。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%,提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外,嵌入式测量专业知识可提供测试指南并让您对结果充满信心。
特点:
•内置英语,中文,日语和韩语版本的测量视频
•使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
•自动实时参数提取、数据绘图、算数函数测量、 切换、 重复。
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换,无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同,四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看,可快速完成测试设置,并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点:
无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
稳定的低电流测量,适用于 I-V 检定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU,对高电容测试连接进行稳定的低电流测量
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块,您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择,可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块,Keithley 可确保您获得准确的低电流测量,而停机时间很少甚至没有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU,通过高测试连接电容进行稳定的低电流测量
特点:
不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
进行 飞安测量
多达 9 个 SMU 通道
针对长电缆或大卡盘进行了优化
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。
晶片探测站前面的 Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
•“点击”测试定序
•“手动”探测器模式测试探测器功能
•假探测器模式无需移除命令即可实现调试